产品介绍：

1412HR-NDT是一款大面积的平板X射线探测器专门设计的用于无损检测系统和科学成像应用，它的基本结构为一个数字化的CMOS芯片粘接到radiation-hard的光纤面板（FOP）一侧，FOP另外一侧直接连接一块厚度为250 µm CsI的闪烁体。

探测器像素尺寸为50µm，分辨率为2800×2400，14bit数字化输出，具有两种增益模式，通过选择像素的增益，探测器可以工作于低噪声单发模式和高灵敏度实时模式。全分辨率读出帧率高达29FPS，非常适用于实时监测和工业CT。可设置的感兴趣区域，使得探测器可以在更高的帧率下工作，在4cm的区域下帧率高达90fps。

像素尺寸	50μm×50μm	最小ROI尺寸	2 rows
分辨率	2800×2400	读出结构	卷帘快门
有效区域	14cm×12cm	传感器温度范围	-20℃-100℃
传感器类型	CMOS数字传感器，14bit	无损读出模式	可选
增益模式	高增益（快曝光） 低增益（低剂量）	同步接口	Sync in（TTL）, sync out（opto- switch）, SMB sockets
闪烁体	250μm CsI	触发模式	连续/软件触发/硬件触发 （同步输入）/自动触发
窗口材料	碳纤维，并标记有效探测区域	接口	USB 3.0 C type
帧率（全帧）	29fps	功耗	3.5W
帧率（ROI模式）	14μs/row	工作温度	0-60℃