辊压成型机
实现高精度轧制出货量为日本常设2条示范设备生产线 参考价面议
荧光分布成像系统 EEM View
荧光分布成像系统采用全新设计，可以测定并观察样品的光谱数据。利用AI光谱图像处理算法*1，不但可以分别显示样品的荧光图像和反射图像，还可以获得不同区域的光谱图像*1(荧光光谱、反射光谱)。*1计算系统是国立信息学研究所的IMARI SATO教授和郑银强副教授共同研究的成果。*EEM是日立科学公司在中国和日本的注册商标 参考价面议
生产环境监控系统 ZigMo监控系统
生产环境监控系统 ZigMo是一款将无线网络和工厂控制系统EX系列相结合而开发出来监控系统，将监控・操作功能合二为一。可适用于制药、电子零件等各行各业的生产现场的环境管理。 参考价面议
热电离质谱仪（邻苯二甲酸酯检查用） HM1000A
随着RoHS指令的改订，2019年7月开始，在涂覆电线，绝缘胶带及包装薄膜等产品中被广泛使用的4种邻苯二甲酸酯类物质将被列入为限制对象。本装置是可以在生产现场，简单迅速地筛选检查邻苯二甲酸酯类物质的专用机。其操作性优异，处理效率，可以在8小时内连续测量50个样品。 参考价面议
高性能能量色散型X射线荧光元素分析仪 EA1200VX
一台覆盖了从RoHS/ELV测量筛选到高度分析的X射线荧光分析仪。图标说明 参考价面议
屋内避雷器
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透射电子显微镜HT7800系列
～从生物医学到材料领域～以创新的操作性，满足广泛领域的需求。新一代TEM"RuliTEM"诞生。"RuliTEM"120 kV透射电子显微镜系列，包含配备高衬度透镜，实现大视野、高对比度观察的HT7800和配备同级别分辨率透镜的HT7830。全新操作可应对日常工作。我们将竭诚为您提供质的TEM解析解决方案。 参考价面议
球差校正扫描透射电子显微镜 HD-2700
专用扫描透射显微镜HD-2700，配备了与德国CEOS GmbH公司(总经理Max Haider先生)共同开发的球差校正仪，显著提高了扫描透射电子显微镜的性能，更适合高级纳米技术研究。由于球差校正系统校正了限制电子显微镜的性能的球差，使其与标准型号显微镜相比，分辨率提高了1.5倍，同时，探针电流提高了10倍。最近，该显微镜还配备了高分辨率镜头和冷场发射电子枪，进一步提高了图像分辨率和电子束能量分辨率。同时，该型号系列还增加了一款不带球差校正的主机配置，可以以后加配球差校正进行升级。 参考价面议
透射电子显微镜 H-9500
原子分辨率300 kV透射电子显微镜在精细加工技术已进入到亚纳米级水平的半导体，*材料的研发领域，原子分辨率电子显微镜正在成为日益重要的，的工具。为了满足这种需求，日立*公司研发出了 H-9500透射电子显微镜，此款高分辨透射电子显微镜不仅具备实地验证过的各种优秀性能，而且配置了很多满足客户多种需求的功能，并采用了的数字技术，便于用户及时快速获取原子水平的样品结构信息。 参考价面议
场发射透射电子显微镜 HF-3300
日立的冷场发射电子源和300 kV加速电压技术共同打造了超高分辨率成像和高灵敏度分析功能。双棱镜全息技术，空间分辨电子能量损失谱以及高精度平行纳米电子束衍射技术开辟了高效，高精度样品分析的新途径。 参考价面议
球差场发射透射电子显微镜 HF5000
200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空间分辨率和倾斜、分析性能通过单极片实现0.078 nm的STEM空间分辨率和高样品倾斜度、高立体角EDX。透射电子显微镜除了延续了日立公司配备的具有扫描透射电子显微镜HD-2700的球面像差校正器的功能、自动校正功能，像差校正后的SEM图像和对称Dual SDD技术等特点。还融汇了透射电子显微镜HF系列中所积累的技术。对于包括用户在内的广泛用户，我们提供亚级空间分辨率和高分析性能以及更多样化的观察和分析方法。※附带第二显示器（可选），显示屏为嵌入 参考价面议
扫描电子显微镜 FlexSEM 1000 II
*的SEM更为紧凑宽幅仅为45 cm的紧凑型的设计，仍具备4.0 nm的图像分辨率。全新开发的用户界面和电子光学系统让您深切体验其高性能。 参考价面议

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