Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪

Hiden SIMS Workstation二次离子质谱仪

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具体成交价以合同协议为准
2024-03-05 07:29:44
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南京木木西里科技有限公司

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产品简介

产品介绍INTRODUCTION适合做多层薄膜的深度分析

详细介绍

产品介绍INTRODUCTION

  • 适合做多层薄膜的深度分析。
  • 很好的、耐用的、普通目的的二次离子质谱仪。
  • 方便使用。
  • 样品可以手动转换,由于分析速度快所以每天可以分析一定数量的样品。
  • 我们的系统可配置快速原子枪,使我们可以轻松处理绝缘的样品。
  • 我们还可以做元素成像(就象化学地图)和混合模式扫描,自动测量正、负和中性粒子。
  • 我们的系统是典型的超高真空工作台,很容易满足很多其它分析的使用。
  • 结构紧凑,但不损失性能。真正的高性价比。

特点FEATURES

  • 高灵敏度脉冲离子计数检测器,7个数量级的动态范围
  • SIMS 成像,分辨率在微米以下
  • 光栅控制,增强深度分析能力
  • 所有能量范围内,离子行程的最小扰动,及恒定离子传输
  • 差式泵3级过滤四极杆,质量数范围至1000amu
  • 灵敏度高 / 稳定的脉冲离子计数检测器
  • Penning规和互锁装置可提供过压保护
  • 通过RS232、RS485或Ethernet LAN,软件 MASsoft控制

规格参数SPECIFICATION

  • 质量数范围:300,510或1000amu
  • 分辨率:5%的谷,两个相连的等高峰。
  • 检测器:离子计数检测器,正、负离子检测
  • 检测限:1:10E7
  • 质量过滤器:三级过滤四极杆(9mm杆)
  • 主离子枪: A,氧离子或其它气体,能量到5KeV;B,Ga离子枪,能量25KeV(选配)
  • 空间分辨率:A:100~150um;B: 50nm
  • 取样深度:2个单分子层(静态);不受限制(动态)
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